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11月21日下午三点，重庆大学分析测试中心的张斌副研究员受邀来访yl23411永利，并于三楼党群活动中心大会议室做题为“基于电子显微技术的硫系化合物微结构定性与定量研究”的学术报告。

张斌老师主要从事透射电子显微学与材料微结构分析工作。他向在场师生介绍了各类先进电子显微技术，特别是球差校正及原位电镜技术的快速发展，为原子参差精准探索材料微结构与动态演变过程，深入剖析材料性能机制与新材料开发提供了强有力的方法策略。报告人结合自身近几年的研究工作，介绍透射电镜显微技术及自主开发的显微图像定量分析方法在几种典型（范德华层状结构)硫系化合物(Ge₂Sb₂Te₅、GeSb₂Te₄、SnSe、GaSe等）材料中的微结构定性/定量与精准解析方面的潜力与应用。会上，张斌老师还同百余名师生进行面对面座谈，针对疑问，给出见解。

本次来访交流，张斌老师为材院的师生带来透射电子显微学的前沿理论知识和实践研究进展，进一步拓展师生思维边界，强化学校间的互动合作和资源共享，助力团队建设高质量发展。