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10月19日上午10点，华中科技大学武汉光电国家中心李露颖教授受邀莅临yl23411永利为师生作学术报告。在本次报告中，李露颖教授阐述了使用定量透射电子显微学研究半导体纳米材料结构性能关系的研究成果。yl23411永利部分教师和研究生出席了本次学术报告会，报告会由梅涛副经理主持。

李露颖教授，2011年毕业于美国亚利桑那州大学，获得博士学位，主要从事半导体纳米材料原子分辨率结构及纳米尺度电学性能的结合研究。

李露颖教授在报告中表示，半导体材料的小型化和集成化的瓶颈问题有4个，分别为短沟道效应、漏电流增大、工作功耗大、稳定性降低。为解决上述问题，需要借助透射电子显微镜，探究其工作状态下的性能微观机理。

为了进一步加深师生对该课题的理解，李露颖教授将报告分为了三个小主题。首先，李露颖教授阐述了如何使用纳米尺度电子全息技术来定量研究电荷分布；随后，又阐述了如何使用原子尺度电子全息&球差校正技术研究界面微结构与电场结合；最后，向师生们展示了使用原位动态电子显微技术研究各种外界激励下原位结构性能的成果。

报告在师生中引起了热烈反响。报告会后，与会师生踊跃提问，李露颖教授一一给予耐心细致的解答，并与现场师生进行互动交流。

梅涛教授在主持时表示，李露颖教授的报告高屋建瓴、深入浅出，并认为，中国电镜数量多，但专业人才稀缺，李露颖教授作为该方面学科带头人，本次作出的报告对于学校学科发展及科研工作的开展具有重要指导意义。